半導體（tǐ）設備

半導（dǎo）體設備

更好的清晰（xī）度
高達670萬（wàn）像素的圖像分辨率提供令人滿意的亮度、對比度、空間分辨率、景深以及灰度，向您呈現更清晰的圖像，並進（jìn）一步簡化（huà）您的分析。
更（gèng）快速的檢測
高達30幀/秒的增強（qiáng）版實時（shí）檢測技術可實（shí）現實時圖像處理，快速提供最佳圖片以最大（dà）化處理量。
保持圖像銳度
QuadraNT™ X射線管提供的高分辨率圖像在高（gāo）倍放大下（xià）仍能保持無與（yǔ）倫比的清晰（xī）度QuadraNT™為您提供銳利清晰（xī）的圖像，特征分辨率為0.1微米時，目標功率達10瓦，或特征分辨率為0.3微米時，目標功率達20瓦。
易於使用
機殼的設計符合人體工程學，可優化用戶與係統交互的方式操作（zuò）人員可迅速啟動和（hé）運行可直觀操作的Gensys™檢測軟件。

獨特的集成技術
Explorer™ one 在圖像鏈（liàn）的每個步驟都具有專有技術，從生成和檢測X射線到圖像增強和測量。每個組件（jiàn）都有一個目的：為電子檢測創（chuàng）建最高質（zhì）量的圖像。
Quadra^® X射線管技術
高質量（liàng）的圖像（xiàng）從（cóng）X射線源開始。Explorer one使用QuadraNT^®X射線管技術（也適用於我們的Quadra係列X 射線檢測工具（jù））在每個功率級提供市場領先的（de）圖像質量，而無需維（wéi）護。
專門設計用於電（diàn）子（zǐ）器件（jiàn）的（de）檢（jiǎn）測
能查看（kàn）小至2μm的產品特性，這種高清細節的檢測功能（néng）與隻是檢測（cè）鍵合是否存在有著（zhe）很大的區別。專為Explorer one 開發的AspireFP® one平板探測器經過優化，能在電子樣品中實現最高對比度。
顯示最精（jīng）細的細節
超過（guò）30種先進的過濾器可以顯示最清晰的圖（tú）像並展示最精細的細節，讓您更（gèng）快地找到特征和（hé）缺陷。
一直朝上
絕（jué）對不會看（kàn）錯方向。無論您從哪個側麵觀（guān）察，Explorer one 獨（dú）特的雙軸傾斜觀察功能均可使電路板朝上，樣（yàng）品肯（kěn）定不會旋轉。

Jade Plus可以獨特地（dì）檢測您的產品品質。
內置尺寸測量工具、BGA空洞分析、凸點直徑和圓度以及通孔填充，可（kě）快速查找並表征缺陷，幫助您達到IPC-A-610和IPC-7095合規標準。
0.95μm解析（xī）度決定了（le）是否能在無源元件中發現微裂紋（wén）。
諾信DAGE雙傾斜角探測器的獨（dú）特幾何結構是（shì）檢測缺陷的最（zuì）快路徑，而這（zhè）些缺陷僅在特定視角下才能看見。
第四（sì）代（dài）開放管技（jì）術非常適合（hé）以微米級解析度（dù）檢測電子樣品。
Gensys軟件（jiàn）專為電子檢測而開發，將全麵的（de）測量工具和自（zì）動化整合到一個（gè）可以快速學會的直觀點擊式平台中（zhōng），因此您可以更快地獲得最大的生產力。
QuadraGEN專為Quadra®係列高解析度X射線檢測係統而設（shè）計，可提供高（gāo）質量X射（shè）線圖像所（suǒ）需的功率和穩定性。